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光学

MH-15JF精密数显型测量显微镜

MH-15JF精密数显型测量显微镜
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详细描述

一、 用途

MH-15JF数显型精密测量显微镜是光学计量仪器之一种,它的结构简单,采用3”TFT显示屏直读,操作方便,适用范围极广,主要用途如下:

1. 直角坐标中测定长度,例如测定孔距,基面距离,刻线宽度,键槽宽度,狭缝宽度,通孔外圆直径等等。

2. 转动度盘测定角度,例如对刻度盘、样板、量规、钻孔模块及几何形状复杂的零件进行角度测量。

3. 用作观察显微镜,以比较法检查工作表面光洁度,鉴定冶金工业的矿石标本。鉴定印刷照相制版,检验纺织纤维等。


 二、规格:

物  镜

目  镜

显微镜

放大倍数

工作距离

(mm)

视场直径

(mm)

放大倍数/数值孔径

焦距(mm)

放大倍数

焦距(mm)

2.5×/ 0.08

43.40

10×

带分划板

25.00

25×

58.84

5.6

10×/ 0.25

17.13

100×

7.81

1.4

测量工作台读数装置主要规格:

采用LED上下可调光源,X、Y测量结果均采用3”TFT显示屏直读,公英制转换

X轴测量范围                            50mm

Y轴测量范围                            13mm

数显分辨率                               0.0001mm

测量台转动范围                        不限

测量台刻度盘分度范围              0° ~ 360 °

测量台刻度盘之分度值              1°

测量台刻度盘游标读数示值       6′

测量地点温度(20°C±3°C)

测量精度:仪器准确度误差±(5+L/15)μm

注:L—被测件长度(mm)

 

三、主要尺寸:

测量台与物镜之间最大距离       80mm

测量工作台直径                        120mm

仪器外形尺寸(长×宽×高)   262×220×425mm

仪器重量:                               约11kg


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标签:   数显型测量显微镜 密数显测量显微镜
点击次数:  更新时间:2015-12-28 00:11:22  【打印此页】  【关闭】
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